EBSD mapping of shear zones strain gradient - seismic anisotropy (2020)

La méthode EBSD permet de caractériser les propriétés cristallographiques d'un échantillon (orientations cristallographiques, taille des grains...). Un détecteur EBSD est principalement composé d’un écran fluorescent, sur lequel vont se former les diagrammes de diffraction, et d’une caméra à bas niveau de lumière, qui va permettre de récupérer l’image de ces diagrammes. Le détecteur est généralement placé dans un microscope électronique à balayage (MEB). Le faisceau électronique généré par le MEB va ainsi venir percuter la surface de l’échantillon incliné de 70°. D'après le diagramme de diffraction des électrons obtenu en un point donné, il est possible de déterminer l'orientation cristallographique en ce point.

Les analyse ont été menées sur des d’échantillons collectés entre 2013 et 2018. Les cartes sont les premières données générées, et sont ensuite nettoyées afin d'en extraire différentes informations (orientations cristallographiques préférentielles, degré de désorientation...).

Contrairement aux cartes visant à caractériser les mécanismes de déformation, c'est ici la taille des cartes qui a été optimisée vis-à-vis de la résolution, dans un souci de représentativité. L'objectif est en effet de déterminer la proportion des différentes phases minérales présentes sur l'ensemble de la lame mince, ainsi que leurs orientations cristallographiques préférentielles, afin de reconstruire les propriétés sismiques globales de l'échantillon.